X-ray difrakcija | Aparatura - Analitička oprema i sustavi
11754
page-template-default,page,page-id-11754,page-child,parent-pageid-1360,mkd-core-2.0.1,ajax_updown_fade,page_not_loaded,,burst-ver-3.2, vertical_menu_with_scroll,smooth_scroll,side_menu_slide_with_content,width_370,blog_installed,wpb-js-composer js-comp-ver-6.4.1,vc_responsive

X-ray difrakcija

Neinvanzivna karakterizacija svojstava materijala

Difrakcija  rendgenskih zraka omogućuje detaljnu analizu bilo kojeg materijala od temeljnih istraživanja do industrijske kontrole kvalitete omogućujući tako napredna rješenja kupcima. Aplikacija ovih kvalitativnih i kvantitativnih tehnika uključuje:

 

  • Identifikaciju faze
  • Kvantitativnu analizu
  • Određivanje kristalne strukture
  • PDF analizu (total scattering)
  • Small Angle X-Ray Scattering (SAXS)
  • X-ray reflektometriju (XRR)
  • Rendgensku difrakciju visoke rezolucije (HRXRD)
  • Uzajamno mapiranje prostora (RSM)
  • Residual Stress
  • Tekstura
Više
D6 PHASER
D6 PHASER
D8 ADVANCE
D8 Advance
D8 Discover
D8 ENDEAVOR
D8 Endeavor

SC XRD

D8 kristalografska rješenja su standard za kvalitetu i svestranost u Single Crystal X-ray difrakciji (SC-XRD). Detaljan uvid u odnos između strukture, funkcije i reaktivnosti presudan je za uspjeh moderne znanosti.

Single Crystal X-ray difrakcija (SC-XRD, SXRD, SCD) jedna je od najsnažnijih metoda generiranja ovih bitnih informacija i stoga je postala ključni alat za nova otkrića.

Više
D8 Venture
D8 Quest